檢測 IC 半導體製程必不可少的精密儀器，材料分析技術一日千里 |
作者
TechNews|發布日期
2023 年 05 月 24 日 9:00 |
|
穿透式電子顯微鏡 （Transmission Electron Microscope, TEM）是觀察微小結構及原子排列的最常用分析方法。隨著 IC 半導體 (Semiconductor) 的發展，車用鋰 （Li）電池、量子電腦 (Quantum Computer)、第四代 III-V 族化合物半導體、二維材料如石墨烯 （Graphene） 等新材料的分析需求與日俱增，提高電子顯微鏡所具備的解析度也成為當務之急。
日本 Rapidus 目標 2025 年 4 月試產 2 奈米晶片 |
|
作者
MoneyDJ|發布日期
2023 年 05 月 23 日 11:35 |
|
目標將次世代半導體（晶片）國產化、由日本官民合作設立的半導體研發/製造/銷售公司 Rapidus 公布最新的生產計畫，預計將在 2025 年 4 月試產 2 奈米晶片。 繼續閱讀..
