NI 國家儀器身為平台式系統供應商，可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求，NI 於 2016 Semicon Taiwan 展期祭出三大半導體測試解決方案，分別為可搭配半導體測試系統（STS）使用的高功率 RF 模組、ATE 等級的 PXIe-6570 數位波形儀器，以及兼具速度與靈敏度的 PXIe-4135 電源量測單元（SMU）。
2016 Semicon Taiwan 展期 NI 祭出三大半導體測試解決方案 |
作者
TechNews|發布日期
2016 年 09 月 09 日 12:05 |
|
