紀念性一刻!ASML 最新 High-NA EUV,成功印首條 10 奈米密集線 作者 林 妤柔|發布日期 2024 年 04 月 18 日 16:28 | 分類 半導體 , 材料、設備 | edit ASML 宣布首款 0.55 數值孔徑(High-NA)EUV 曝光設備已列印出第一個圖案。最新貼文,High-NA EUV 系統成功列印出第一條 10 奈米密集線(dense lines)。 繼續閱讀..